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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列

簡要描述:

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式,配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置,但沒有可編程的XY樣品臺。

更新時間:2020-03-06

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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列產品概述:

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式,配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置,但沒有可編程的XY樣品臺。

B系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。

 

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列

可滿足以下類型用戶的需求:

- 樣品測試量相對較小

- 樣品僅需測量一個位置

- 大型線路板鍍層的抽檢

- 預算有限但希望日后儀器性能能有所提升

- 符合IPC-4552A

 

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列產品參數:

類別

參數

元素測量范圍:

X射線管:

探測器:

分析層數及元素數:

濾波器/準直器:

焦距:

數字脈沖器:

計算機:

 

相機:

電源:

重量:

馬達控制/可編程XY平臺:

延伸可編程XY平臺:

樣品倉尺寸:

外形尺寸:

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器

5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

4位置一次過濾器/單規格準直器

激光固定焦距(可選多焦點)

4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

34kg

不可用

不可用

高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:335mm(13")

高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

 

關于美國博曼:

美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

 

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