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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀G系列

簡要描述:

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀G系列是博曼的一款機型。該機型機構緊湊,沒有可移動部件。與博曼其他系列不同,該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上,并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小,可手動調整樣品位置測量樣品,該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業的鍍層分析與應用。

更新時間:2020-03-06

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博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀G系列產品概述:

G系列是博曼的一款機型。該機型機構緊湊,沒有可移動部件。與博曼其他系列不同,該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上,并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小,可手動調整樣品位置測量樣品,該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業的鍍層分析與應用。

G系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀G系列

可滿足以下類型用戶的需求:

- 樣品測試量相對較小

- 客戶或供應商對于鍍層提出了新要求

- 主要分析珠寶或其他貴金屬

- 預留擺放空間小

- 預算有限

 

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀G系列產品參數:

類別

參數

元素測量范圍:

X射線管:

探測器:

分析層數及元素數:

濾波器/準直器:

焦距:

數字脈沖器:

計算機:

 

相機:

電源:

重量:

馬達控制/可編程XY平臺:

延伸可編程XY平臺:

樣品倉尺寸:

外形尺寸:

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器

5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

4位置一次過濾器/雙規格準直器

激光單定焦距

4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

25kg

不可用

不可用

高度:125mm(5"),寬度:380mm(15"),深度:300mm(12")

高度:400mm(16"),寬度:400mm(16"),深度:380mm(15")

 

關于美國博曼:

美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

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